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產品詳情
“半導體 分立器件測試系統”參數說明
| 是否有現貨： | 是 | 認證： | 西安智盈電氣 |
| 元器件種類： | 半導體器件測試儀 | 型號： | Dbc-249 |
| 規格： | 800*800*80 | 商標： | 西安智盈電氣 |
| 包裝： | 木箱 | 產量： | 10 |
“半導體 分立器件測試系統”詳細介紹
半導體 分立器件測試系統基本介紹
設備的擴展性強，通過選件可提高電流、電壓以及測試品種的範圍。支持電壓電流階梯升級至2000V，1250A。採用了脈衝測試法，脈衝寬度爲300uS。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統採用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由於系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。
半導體 分立器件測試系統性能特點
設備的擴展性強，通過選件可提高電流、電壓以及測試品種的範圍。支持電壓電流階梯升級至2000V，1250A。採用了脈衝測試法，脈衝寬度爲300uS。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統採用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由於系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。
半導體 分立器件測試系統技術參數
基礎配置
| 技術參數 |
ZY-2050A型 |
| 主極電壓 |
10mV-2000V |
| 主極電流 |
10-500A |
| 電壓解析度 |
1mV |
| 電流解析度 |
100nA |
| 測試精度 |
3%+2LSB |
測試範圍
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測試器件 |
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二極體 / DIODE |
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絕緣柵雙大功率電晶體 / IGBT |
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電晶體 / NPN型/PNP型 |
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MOS場效應管 / MOS-FET |
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J型場效應管 / J-FET |
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可控矽 / SCR |
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雙向可控矽 / TRIAC |
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達林頓列陣 / DRALINTON |
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光電耦合 / OPTO-COUPLER |
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穩壓、齊納二極體 / ZENER |
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三端穩壓器 / REGULATOR |
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雙向觸發二極體 / DIAC |
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矽觸發可控矽 / STS |
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光電開關 / OPTO-SWITCH |
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光電邏輯 / OPTO-LOGIC |
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金屬氧化物壓變電阻 / MOV |
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固態過壓保護器 / SSOVP |
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壓變電阻 / VARISTOR |
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繼電器 / RELAY |
半導體 分立器件測試系統使用說明
設備的擴展性強，通過選件可提高電流、電壓以及測試品種的範圍。支持電壓電流階梯升級至2000V，1250A。採用了脈衝測試法，脈衝寬度爲300uS。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統採用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補償由於系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。
半導體 分立器件測試系統採購須知
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