反射記憶體卡電子故障注入與診斷

　　故障注入是指針對特定的故障模型，有意識的在目標系統中催出故障，加速其錯誤和失效的發生，通過分析系統對所注故障的迴應資訊，可以驗證其容錯和故障 等資訊。

　　對于軍用電子平臺來講，必須具有很高的運行穩定性、健壯性和可維修性。因此在軍用電子系統的設計、研發和測試過程中充分考慮各種異常狀態可能帶來的影響，是系統設計的重要內容。故障注入通過模擬電子設備及其介面可能發生的異常( 包括物理連接失敗、性能參數下降、功能失效、時序錯誤等)，可對電子系統進行 面的測試和驗證。

　　NI 爲電子故障注入與診斷提供了 的軟硬體綜合平臺，結合基於PXI 匯流排的故障注入模組（FIU）、精確電壓電流激勵源、各種矩陣開關模組以及MILSTD-1553/ ARINC-429/ AFDX 等航空匯流排介面模組可模擬軍用電子設備與介面所發生的異常，並且可通過NI 的各種信號調理與採集模組將目標系統的迴應資訊進行採集分析。NI LabVIEW、NI TestStand 等軟體爲故障注入與診斷提供了 的ATE 測試程式開發與測試流程管理解決方案。

　應用舉例故障注入綜合測試平臺 器件級的故障注入：通過開放式的程式設計使設備可以強制”拉出”和”灌入”電流，注入的 短時間可程式控制板級/ 單元級電氣層故障注入：通過開放式的程式設計使設備可以產生任意頻率的數位時序，可以配合矩陣開關或多路復用開關進行故障注入板級/ 單元級物理鏈路層故障注入：使用矩陣/ 多路復用通用開關，通過開放式的程式設計使設備可以模擬任意通道短路、斷路、信號電阻搭接等故障 同時對於此測試平臺可通過NI TestStand 軟體實現測試管理，且支持ATLAS 和ATML 案例：某研究所基於NI PXI 平臺及相應軟體構建上述故障注入所需的硬體與軟體試驗環境 具體看來，基於PXI 的SMU 模組可實現電流的”拉出”與”灌入”，並通過NI LabVIEW 編寫程式精確控制時間到ms 量級。 基於PXI 的高速數位I/O 模組可以產生任意頻率的數位時序，配合矩陣開關模組進行電氣層故障注入。基於PXI 的FIU 模組可以實現任意通道的短路、斷路等故障模擬。NI TestStand 測試管理軟體支持LabVIEW、LabWindows/CVI、C/C++、.NET等語言編寫的測試用例集成，並支持ATLAS 和ATML 的標準導入，無需編程即可快速而穩定地實現綜測平臺的集成工作。