Bruker原子力顯微鏡 Icon基本介紹

Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon

 

Bruker公司的AFM具有多項zhuan  li技術，以其的性能廣泛應用於科研和工業界各ling域

Dimension Icon 系列作爲布魯克公司(Bruker AXS)原子力顯微鏡的旗艦產品，凝聚了多項行業ling先的zhuan  li技術，是二十多年技術創新、客戶反饋和行業應用的結晶。

 

應用：

應用於科研和工業界各ling域，涵蓋了聚合物材料表徵，集成光路測量，材料力學性能表徵，MEMS製造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究，液晶材料性能表徵，分子器件，生物感測器，分子自組裝結構，光碟存儲，薄膜性能表徵等ling域的監測等各類科研和生產工作。

 

原理：

將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針jian，針jian與樣品表面輕輕接觸，由於針jianjian端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恆定，帶有針jian的微懸臂將對應於針jian與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直於樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應於掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的資訊。

原子力顯微鏡的工作模式是以針jian與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。

 

特徵：

1. 低漂移和低噪音水準
2. 配置有專有ScanAsys原子成像優化技術，可以簡易快速穩定成像
3. 測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm
4. 溫度補償位置感測器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水準，並呈現出的高解析度。
5. 全新的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下大大提高了掃描速度。
6. 探針和樣品臺的開放式設計使Icon 可勝任各種標準和非標準的實驗。
7. 的布魯克AFM的模式和技術，如高次諧波共振模式，和的不失真高溫成像技術--採用對針jian和樣品同時加熱的方法， da減少針jian和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。

 

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